第403章（2/2）

在4G甚至未来可能的5G时代，就可以掌握了更为先进的技术.......

李耀华打断了他的发言，“这些背景东西就不要讲了，何教授，请你解释一下你的团队是如何克服BMEMLCC的是不可靠问题？”

何旭明略有迟疑，“其不可靠是因为失效，具体机理是，我们的产品在高温高压下，产品中的固有缺陷被提早激发，这样，内部的机理就从束缚态转变为活跃态。

在电场作用下，这些缺陷定向移动到阴极，形成泄漏电流勒，随着时间的推移，最终导致产品热烧毁（具体理论可称为齐纳击穿），我们采用的方法是通过增加束缚，这样，可以有效的提高了我们产品的可靠性。”

李耀华直接打断他的发言；

“02年的时候，漂亮国NASA国家航空航天局戈达德太空飞行中心已经提出了可靠性要求，要求必须长期满足高质量和高安全标准，确保产品百分之一百的可靠性！你用什么方法保证测试的？”

何旭明就答：“我，出了常规的halt方法，我使用的是利用PA计测量弛豫缺陷，这样就可以了解每个去极化机制的泄漏电流峰值。”

听何旭明这么说，李耀华看了一眼贺云水，两人都默不作声。

刚才他们本来就问到了一个关键性的问题，但是涉及到PA计测量弛豫缺陷这个方法，这两个人不太清楚，实际上国内用的人不多，直到2007年国内科研团队才开始大规模使用。

所以，何旭明是仗着他在国内没太多人懂的先机，利用这个打了个信息差。

可是，两位院士虽然不懂，但是凭借着深厚的理论和实践经验，还是感觉有一些问题，但是由于他们不懂具体怎么回事，涉及到了一些细节问题。